XAFSを用いたV₂O_5-M_xO_y系ガラスの構造解析

抄録

V₂O₅-M_xO_y(M=P, Te, Pb, Ba)二元系ガラスや、これにAg₂O、Sb₂O₃、WO₃などを添加した三元系ガラスの構造解析を目的として、V元素周囲の局所構造をSPring-8／BL14B2のXAFS測定装置にて評価した。V-K吸収端の低エネルギー側に現れるプリエッジのピーク強度より、TeO₂やPbOを添加したガラスではV₂O₅結晶の５配位と比較して配位数が減少している可能性が示唆された。また、Ag₂O、Sb₂O₃、WO₃の添加はいずれもプリエッジのピーク強度を増加させることから、配位数もしくは対称性に影響を与えることが分かった。