SPring-8/SACLA利用研究成果集
Online ISSN : 2187-6886
Section B
X線吸収微細構造測定による表面エッチング処理を施したEu,O共添加GaNのEuイオン周辺局所構造の評価
小泉 淳藤原 康文朱 婉新松田 将明稲葉 智宏児島 貴徳大渕 博宣本間 徹生
著者情報
ジャーナル オープンアクセス

2015 年 3 巻 2 号 p. 586-588

詳細
抄録
Eu添加GaN(GaN:Eu)による赤色発光ダイオードの高輝度化を目的として、高濃度Eu添加とEuイオン周辺局所構造の制御技術の確立を目指している。新規有機Eu原料EuCppm2を用いてEu,O共添加GaNを作製した場合、表面に明らかな析出物が観察されない場合であっても、O共添加しない場合と同様、XANESスペクトルにEuを含む表面析出物の存在を示す高い強度のホワイトラインピークが現れていた。試料を塩酸エッチングすることで、ホワイトライン強度の減少が観察され、標準試料としているEu(DPM)3により作製したGaN:Euとほぼ同じXANESスペクトルが得られた。また、成長中断を行うことでNH3ガスによるEuを含む析出物の除去を試みたものの、Eu-N-O化合物の形成が促進されることを示唆する結果が得られ、逆効果であることがわかった。
著者関連情報
前の記事 次の記事
feedback
Top