抄録
BaTiO3誘電体セラミックスに添加された遷移金属の価数分析法として硬X線光電子分光(HAXPES:HArd X-ray PhotoElectron Spectroscopy)に注目し、価数の解析が可能な光電子スペクトルを取得するための測定条件を検討した。試料にカーボンコートを施し併せて電子線照射を行うことにより、試料表面の帯電が抑制され、変調がない光電子スペクトルが得られることがわかった。また硬X線に対しイオン化断面積が大きい1s準位を選定することにより、微量の遷移金属の光電子スペクトルの検出が可能であった。