高エネルギーＸ線回折を用いた銅酸化物高温超伝導体における電荷密度波の研究

抄録

CuO₂面が三層重なったBi系銅酸化物高温超伝導体 Bi₂Sr₂Ca₂Cu₃O_10+δ（Bi2223）における電荷密度波を探索するため、高エネルギーＸ線回折実験を行った。低温で出現し、温度上昇により消失する超格子反射は観測されたが、銅 L₃ 吸収端では等価な波数位置には観測されないため、電荷密度の変調に由来した超格子反射ではないと結論づけた。結晶中のCuO₂面間でホール濃度が不均一である三層系における電荷密度波の特徴とその超伝導との関係について議論を行う。