XAFSによるスズおよびコバルトを還元析出した白金触媒の局所構造解析

谷屋 啓太; 今井 智太; 桶本 篤史; 市橋 祐一; 西山 覚

doi:10.18957/rr.6.1.86

Section B

XAFSによるスズおよびコバルトを還元析出した白金触媒の局所構造解析

谷屋啓太, 今井智太, 桶本篤史, 市橋祐一, 西山覚

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キーワード: Sn-deposited Pt/SiO₂, Co-deposited Pt/SiO₂, 液相還元析出, 選択水素化, 2013B1709, BL14B2

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2018 年 6 巻 1 号 p. 86-92

DOI https://doi.org/10.18957/rr.6.1.86

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抄録

SnまたはCoカチオンを水素雰囲気下の液相中で Pt/SiO₂ 上に還元析出させた、Sn-deposited Pt/SiO₂ 触媒および Co-deposited Pt/SiO₂触媒における各添加金属種の局所構造についてX線吸収微細構造（XAFS）測定を行った。XANESの結果から、Pt/SiO₂ 上に析出したSn種およびCo種はそれぞれ4価および2価で存在していることがわかった。また、EXAFSの結果から、SnおよびCoの最近接にはO原子が存在することが示唆されたが、それぞれの化合物種の同定には更なる検討が必要である。

責任著者(Corresponding author)

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