硬Ｘ線光電子分光による駆動中の有機デバイス素子の解析

抄録

電圧印加により発光した状態の有機EL素子について硬X線光電子分光（HAXPES）測定を行った。電圧印加に伴うXPSピークのシフト幅を比較した結果、発光層とホール輸送層の間に最も大きな差があり、印加した電位差がこの領域の電荷移動で費やされていることを直接的に観測できた。