In situ XAFSによる Pd/CZO₂ 触媒の劣化解析

抄録

　Pd/CeZrO₂ に代表される環境浄化触媒は、XAFSによる in situ 分析が近年盛んに行われており、価数や局所構造による評価事例が多数報告されている。近年当社は、ラボでガス流通・加熱試験が可能な in situ XRD を導入し、ビームタイムを待つことなく in situ 実験が提供できる環境を整備した。本課題ではSPring-8 BL08B2における in situ XAFS とラボで実施可能な in situ XRD を併用・比較して Pd/CeZrO₂ の劣化解析を行うことで、触媒の挙動および in situ XRD の有用性を考察した。