Ｘ線マイクロビーム構造解析法による溶液成長させたエピタキシャル単結晶の構造解析

抄録

発光色の異なる同形の Cu(I) と Ag(I) の六核金属錯体の組み合わせについて、Cu(I) 錯体の基板結晶表面に Ag(I) 錯体をクロロホルム溶液から結晶粒として成長させた試料に、Ｘ線マイクロビームを照射して回折像を測定し、表面結晶粒と基板結晶の方位測定と単結晶構造解析を行った。その結果、それぞれ既知構造と一致し、測定した4つの表面結晶粒と基板結晶の結晶方位が、１つの結晶粒を除いて、4.4˚ 以内で一致することを明らかにした。