静電浮遊溶解装置を用いたRh融体のX線回折測定

抄録

構造因子 S(q) は物質の基本的な情報の一つである。近年、高輝度放射光を用いて様々な融体の S(q) が求められているが、高温融体に関しては、液体と保持容器の反応の問題が障害となり、測定が行われていない物質が多い。本研究では、静電浮遊溶解装置を用いて Rh 融体（融点 1966℃）のX線散乱測定を行い S(q) を測定した。