XFEL による気相試料のＸ線回折計測

抄録

　SACLA-XFEL 光を超短パルスＸ線光源として用いるＸ線回折像計測装置を開発し、気相試料 CCl₄ の時間分解Ｘ線回折計測を試みた。その結果、s = 1.2 ~ 6.2 にわたるＸ散乱線強度分布曲線の測定とフェムト秒レーザーパルスに対する遅延時間に依存して変化するＸ散乱信号の観測に成功した。本実験で用いた SACLA-XFEL 光、試料ガスの条件において、10,000 ショットの積算で 1% 程度の統計誤差を持つＸ線散乱強度分布が得られることが示された。