放射光Ｘ線回折・散乱を用いた溶剤ストレスクレージング機構解析(3)

抄録

　プラスチックの破壊機構のひとつに、応力下で各種薬剤と接触してクレーズやクラックを発生する溶剤ストレスクレージング（SSC: Solvent Stress Crazing）がある。その破壊メカニズムについては分子鎖間への薬剤分子の拡散による応力緩和とされているが、詳細な構造解析を行った例は少ない。本研究では、SSC によるプラスチックおよび薬剤分子の凝集構造変化を明らかにすることを目的に、放射光Ｘ線回折・散乱測定による構造解析を行っている。今回、ドデシル硫酸ナトリウム（SDS）水溶液を塗布した耐衝撃性ポリスチレン（PS-HI）の SSC 発生過程におけるその場小角Ｘ線散乱（SAXS）測定より、応力下において SDS が浸透したのち、PS-HI 内部にクレーズ・クラックが形成し破断に至ることを明らかにした。破断後の除荷によりクレーズは消失し、クラックのみが残存することが分かった。