パルス計数計測法を用いた単一W原子上のHe-Ne電界吸着機構の研究Ⅲ

抄録

パルス計数計測機能を組み込んだ走査型プローブホール電界イオン顕微鏡（FIM）を用いて、He-Ne混合ガスをイメージングガスとした場合の電界イオン化過程について調べた。単一W原子上から放射される電界イオンの時系列データの解析から、HeとNeの吸着原子としての入れ替わり、吸着時間の変化を実時間で追跡することで、電界吸着構造とその時間的な変化（ダイナミックス）に関するミクロなメカニズムについて報告する。