ピコ秒時間分解X線回折法による金ナノ結晶表面反応を用いた冷却機構の評価

抄録

デバイスの高集積化に伴うジュール熱の発生からの熱拡散過程の評価法の確立が必要である。従来の可視光を用いた反射率測定からパルスX線を用いた時間分解X線回折測定にすることでナノ結晶内の格子定数変化から温度を直接観測することが可能になった。本研究では、基板上の金ナノ結晶の熱拡散過程観測と金ナノ結晶表面に有機分子を修飾しナノ結晶の高効率冷却を試みた。ナノ秒以下の温度拡散過程の制御法について議論する。