Ag(111)表面上に形成したシリセンのAFM/STM計測

抄録

シリセンはSi原子がハニカム状に配列した物質で、二次元トポロジカル絶縁体として注目されている。本研究では、室温AFM/STMを用いてAg(111)表面上に形成したシリセンの観察を行った。STMによって表面の凹凸像を取得し、AFMによって最表面のSi原子上で周波数シフトおよび時間平均トンネル電流の距離依存性を調べた。その結果、探針先端原子と試料表面原子との間に化学結合が生じていることが分かった。