2E1-1 Machine learning assisted characterization of submicron-sized failures in 3D interconnect technologies utilizing scanning acoustic microscopy

超音波エレクトロニクスの基礎と応用に関するシンポジウム講演論文集

Online ISSN : 2433-1910
Print ISSN : 1348-8236

2E1-1 Machine learning assisted characterization of submicron-sized failures in 3D interconnect technologies utilizing scanning acoustic microscopy

Priya Paulachan, Ingo Wiesler, Tatjana Djuric-Rissner, Peter Czurratis, Rol Brunner

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ジャーナルフリー

2024 年 45 巻 p. 78-

DOI https://doi.org/10.24492/use.45.0_2E1-1

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© © 2024 特定非営利活動法人超音波エレクトロニクス協会

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