偏光光学系を利用したレンジファインダによる光沢物の形状計測

山口 義紀; 三宅 弘之; 西川 修; 伊與田 哲男

doi:10.11371/wiieej.02-07.0_43

画像電子学会第200回研究会講演予稿

セッションID: 02-07-07

DOI https://doi.org/10.11371/wiieej.02-07.0_43

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主催: 画像電子学会

偏光光学系を利用したレンジファインダによる光沢物の形状計測

*山口義紀, 三宅弘之, 西川修, 伊與田哲男

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キーワード: 光沢, 鏡面, 完全拡散反射面, 偏光, 検光子, レンジファインダ, レンズ主点, 多値パターン

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抄録

光沢物の形状計測が困難であることから, 光沢面の反射特性をモデル化しその計測実験を行った. まず直線偏光および検光子固有の偏光面の設定により, 鏡面反射光を除去でき, 光沢面が完全拡散面として取り扱えることに着目した. 次に投射光学系と同主点性を有する撮像光学系に特徴を持ったレンジファインダにこれを適用した. その結果, 多値パターンを用いた一回の投射・撮像にて光沢物の形状計測を精度良く行うことができたので報告する.

責任著者(Corresponding author)

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