画像電子学会研究会講演予稿
Online ISSN : 2758-9218
Print ISSN : 0285-3957
画像電子学会第295回研究会講演予稿
セッションID: 20-02-20
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線密度特徴量を用いた遺構図描画の一手法
*井村 篤岩切 宗利田中 清
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会議録・要旨集 認証あり

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抄録
発掘調査された遺構の形状や規模を調査員 (考古学者) が実際に現地で計測し,輪郭線としてトレースした ものを遺構図と呼び,これを自動で描画する方法が模索されている.しかし,遺構から取得したオルソ画像 (RGB 画 像) に従来のエッジ抽出法を適用しても,高低差のある遺構の上端線,下端線の抽出が難しいという問題がある.そこ で本研究では,遺構の深度画像に Canny 法を適用することで得られる線密度特徴量に注目し,その疎密を定量的に表 現することで,遺構の上端線,下端線を抽出する方法を提案し,実際の遺構データに適用した例を示して提案法の有効 性を検証する.
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© 2021 一般社団法人 画像電子学会
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