X線分析の進歩
Online ISSN : 2758-3651
Print ISSN : 0911-7806
総説・解説
PIXE分析にありがちなPitfalls(落とし穴)
-信頼できるデータを得るために-
西山 文隆
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2010 年 41 巻 p. 61-74

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抄録

PIXE(Particle Induced X-ray Emission)分析法は蛍光X線分析法やSEM-EDXと同様に内殻電離による特性X線を測定する分析手法ですが,市販の分析装置のように試料をセットしてスタートスイッチを押せば,数値化された分析データを出力してくれるような便利な装置はまだ出現していません.PIXE分析法では加速器から検出器まで装置の基本を理解し,正しく使うことがユーザーに求められています.本稿では広島大学において限られた予算と圧倒的に乏しいマンパワーのなか,ほとんど手作りでイオンビーム分析装置のシステムを構築する過程で実際に体験し得られた,論文にはならない様々なトラブル解決法や測定技術のノウハウをノートとしてまとめてみました.

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© 2010 公益社団法人日本分析化学会 X線分析研究懇談会
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