蛍光X線（XRF：X-ray fluorescence）分析法はX線を試料に照射し，発生した蛍光X線を検出することで試料の元素分析を行う手法である．試料を走査しながら連続的なXRF分析を行うことで，二次元の元素分布像の取得が可能である．本研究では，ベルトコンベア上を連続的に移動する試料に対して，二次元の元素分布像を迅速に取得するためのXRF分析装置を開発した．元素分布像の測定は，X線を広範囲に照射したベルトコンベアを横切る方向に，コリメーターを取り付けた検出器を走査することにより実施し，この方法における試料や検出器の移動方向の空間分解能や検出限界を検証した．また，2種類の金属試料について同時に元素分布像を測定し，開発した装置により多元素同時イメージングが実施できることを実証した．
