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日本計算機統計学会大会論文集
Online ISSN : 2189-5848
Print ISSN : 2189-5821
ISSN-L : 2189-5821
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欠測値をもつ半導体工場測定データにおける平均ベクトル間の多重比較法(一般セッション7)
磯和 洋道, 森永 亘, 久住 麻希子, 山田 春一, 瀬尾 隆
原稿種別: 本文
p. 205-206
発行日: 2006年
公開日: 2017/07/24
DOI
https://doi.org/10.20551/jscstaikai.20.0_205
会議録・要旨集
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本報告では,欠測値をもつ半導体工場測定データにおいて,2標本問題における平均ベクトルの同等性検定とその同時信頼区間を構成することを考える.欠測値をもつことから,Srivastava (1985,2002)やSrivastava and Carter (1986)で提案されている反復法のアイデアによる平均ベクトルと分散共分散行列の最尤推定量を利用して,漸近的な議論を行い,半導体工場測定データに適用する.
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(208K)
順序制約を仮定した正規母平均列に対するステップダウン型多重比較法に基づく変化点解析(一般セッション7)
今田 恒久, 道家 暎幸
原稿種別: 本文
p. 207-210
発行日: 2006年
公開日: 2017/07/24
DOI
https://doi.org/10.20551/jscstaikai.20.0_207
会議録・要旨集
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(388K)
Maximum Likelihood Method of Code Acquisition in DS/CDMA Communication Systems
江島 伸興
原稿種別: 本文
p. 213-214
発行日: 2006年
公開日: 2017/07/24
DOI
https://doi.org/10.20551/jscstaikai.20.0_213
会議録・要旨集
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(153K)
IRTにおける項目パラメータの解析的推定ソフトウェアの開発(一般セッション8)
高橋 征典, 植野 真臣
原稿種別: 本文
p. 215-218
発行日: 2006年
公開日: 2017/07/24
DOI
https://doi.org/10.20551/jscstaikai.20.0_215
会議録・要旨集
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(512K)
Importance of "Mathematics and Statistics" in the Lifelong learning in the UK
Miyoko Asano, Pijush Bhattacharyya
原稿種別: 本文
p. 219-220
発行日: 2006年
公開日: 2017/07/24
DOI
https://doi.org/10.20551/jscstaikai.20.0_219
会議録・要旨集
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