リチウムイオン二次電池の安全性と評価試験

公開日: 2020/08/12 | 第22回マイクロエレクトロニクスシンポジウム p. 187-190

* 青木 雄一, 河合 秀己, 奥山 新

ビアラストTSVプロセスで形成した微細TSVの電気特性評価

公開日: 2019/11/29 | 第26回マイクロエレクトロニクスシンポジウム p. 311-314

* 渡辺 直也, 菊地 秀和, 柳澤 あづさ, 島本 晴夫, 菊地 克弥, 青柳 昌宏, 中村 彰男

エレクトロケミカルマイグレーション（ECM）による劣化現象を通して考える信頼性評価の在り方

公開日: 2019/11/29 | 第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム p. 205-210

* 津久井 勤

銅粒子を内部電極材料としたMLCCの作製

公開日: 2021/04/30 | 第18回マイクロエレクトロニクスシンポジウム

* 米澤 徹, 竹岡 伸介, 岸 弘志, 井田 清信, 友成 雅則

低温硬化可能な新規高伸度ポジ型感光性ポリイミドの開発

公開日: 2019/11/29 | 第27回マイクロエレクトロニクスシンポジウム p. 131-134

* 橋本 啓華, 増田 有希, 荒木 斉, 荘司 優, 小山 祐太郎, 磯部 王郎, 西村 拓真, 奥田 良治