総合論文
半導体シリコンセンサーを用いたpHイメージング顕微鏡による固体表面分析
2009 年 58 巻 7 号 p. 595-601
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2009 年 58 巻 7 号 p. 595-601
微小な複数点でのpH測定が可能な半導体pHセンサーを用い，最小100 μmピッチでのpH分布の可視化が可能なpHイメージング顕微鏡を開発し，その定量性の評価を行うとともに，固体表面の分析への応用を行った．定量性の評価では，イオン交換樹脂一粒から放出されるプロトンが形成するpH分布を可視化し，その分布から得られるプロトン量を評価した．また，固体表面の分析では，金属やヒトの硬組織など，固形物の表面を溶液パラメーターの一つであるpHで評価できる，ユニークな固体表面分析法を考案した．
