超微弱電子ビームを用いた画像化分析法

抄録

電子線形加速器の超微弱ビームを用いて、試料の２次元的な密度分布、元素構成等が測定可能な分析法を検討した。測定は、シンチレーションスクリーンと冷却型CCDを組み合わせた透過線画像検出器と、２次放射線を測定する検出器を組み合わせて行う。これまで、この種の測定は、γバーストの影響が強く不可能であったが、微弱ビームを用いることで適用可能となった。