抄録
半導体デバイスの微細化が進むに従い、二次宇宙線中性子によって引き起こされる誤動作現象であるソフトエラーが電子機器の信頼性問題として問題視されている。
当研究グループは、PHITSと3次元デバイスTCADシミュレータHyENEXSSを繋ぐインターフェイス部を新規開発し、ソフトエラー解析コードシステムを構築した。
本研究では、本コードシステムを用いた解析により、ソフトエラーシミュレーションに必要な核反応データを調査し、大きな影響を与える入射中性子エネルギー領域や生成二次イオン種を明らかにした。
