計測・分析技術高度化のための蛍光体材料開発─錯体重合法による単相YAlO₃の合成と薄膜化─

抄録

計測・分析技術の進歩により新材料の開発が促進されるとともに，新材料の開発が逆に計測・分析技術の高度化に貢献することができる．ここでは，計測・分析技術高度化のための蛍光体材料開発について，特にX線シンチレーターYAP（YAlO₃）を中心に報告する．錯体重合法による単相YAPの合成とその薄膜化，さらには中性子計測への応用例についても触れる．YAP:CeはNaIに代わる高速なシンチレーターとして実用化されており，新材料が計測・分析技術の高度化に貢献した一例である．