超小角X線散乱を用いたトバモライト生成過程におけるC-S-Hの解析：CaO-SiO₂-H₂O系におけるγ-Al₂O₃および石膏添加の影響

抄録

放射光X線散乱とラボラトリーにおけるX線散乱のプロフィールを統合して、トバモライト生成過程のC-S-H構造とトバモライト結晶化の関係を検討した。本研究ではトバモライト生成促進作用があるγ-Al₂O₃および二水石膏添加効果を検証した。SEM観察から、C-S-H粒子はγ-Al₂O₃ではディスク状粒子、二水石膏添加ではロッド状粒子が主体であったが、いずれの散乱プロフィールも解析モデルから良好にフィッティングできた。算出された等価球半径は添加物によりいずれも小さくなり、トバモライト生成挙動との相関が見られた。これら等価球半径は、²⁹Si固体NMRから算出されたSi四面体鎖の平均鎖長と対応しているという興味ある事実が得られた。