タイヤゴム微粒子と高分子のX線観測

抄録

回折X線ブリンキング法（Diffracted X-ray Blinking: DXB）は、微細な運動変化を測定できるユニークな計測手法である。これまでに生体分子、無機・有機材料、高分子、ソフトクリスタルなど様々な物質の動態をサブナノメートルスケールで捉えることに成功してきた。本稿では、欧州X線自由電子レーザー施設を利用し、タイヤゴム微粒子と高分子の動態を世界最速890ナノ秒の時分割性で捉えた研究について紹介する。