PCBテストへのシステム的アプローチ

抄録

高密度·高精細化したPCBの製造後の品質保証を行うため、設計段階からテストを考慮した回路の作り込みを行い製造後のテストの段階では容易に高検出率を確保するためのシステムを開発した。製造テストラインにある既存テスタの機能·性能をデータ化しテスト対象回路に対しテスタ毎に評価を行い、最も高検出率を得るためのテスト戦略を決定する。この結果を用いて各テスタに対しテストデータやテスト冶具作成データを供給するものである。これにより、設計者は診断容易化設計のためには最小限の制約を遵守すれば良くなり、設計時の負担を軽減できる。またテストデバッグ時に発生する設計段階では予期し得ない状況でTPやテスト冶具に影響を及ぼすような現象が発生した場合、最適なテスタの選択とそのテスタのTP作成をサポートする機能も開発を予定している。