抄録
銅電析プロセスによるULSI微細配線の形成は、銅電析に及ぼす添加剤の促進・抑制の組み合わせに基づく銅の完全充填が検討されている。しかし、銅アノードの使用によるアノードスライムの発生、不溶性アノードの使用による添加剤の酸化分解の観点から、添加剤の予備吸着法による銅電析が有効である。本研究では、予備吸着したPEGおよびCl-に基づく銅析出の抑制効果が小さいことから、PEG およびCl-に代わる新規添加剤について検討した。添加剤の予備吸着挙動についてはキャピラリー電気泳動法により検討し、カソード分極の測定結果と併せて銅フィリング機構を検討した。また、コンタクトホールへの銅の充填状態をSEMにより観察した。