５ＧＨｚ帯摂動法による高分子薄膜材料の複素誘電率温度特性装置と計測結果

抄録

近年無線通信の発達によりマイクロ波帯の応用拡大が多くなされてきている。そのためマイクロ波帯電子材料開発に関する多くの論文が発表され、材料の複素誘電率特性計測に関する発表が多くなされている。しかし、温度特性計測に関する論文は殆ど無い。 今回我々は、５ＧＨｚ帯空洞共振器摂動法による高分子薄膜材料も計測できる複素誘電率温度特性計測装置を開発した。そして計測結果を発表する。 高分子薄膜材料：ポリイミド、ＰＴＦＥ、 計測温度範囲 ：－６０～１００℃