エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第21回エレクトロニクス実装学会講演大会
セッションID: 16A-17
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Niめっき中の有害元素分析方法
*林 伸之前嶋 弘山岸 康男
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抄録
EUのRoHS指令等による環境負荷物質の含有分析においては「均質物質」の原則に基づき,部位ごとの含有量データが求められている。しかし,ニッケルめっきは,鉛,カドミウムの含有可能性が高いにもかかわらず分離が難しくめっき膜のみに対する濃度測定が困難であった。従来技術は酸等に浸漬し,めっきが溶解した時点で浸漬を中止するという母材が溶解し,精度が悪化する可能性を含んだ方法であった。そこで母材のみを選択的に溶解除去する手法を検討し,めっき膜を母材から分離する方法を開発し,分離しためっき膜についても蛍光X線,ICP分析により,高い測定精度で有害元素含有量が測定できたので発表する。
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© 2007 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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