主催: 社団法人エレクトロニクス実装学会
元 株式会社マクニカ
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転送速度が1ギガビット/秒を超える付近から信号の減衰が顕在化して伝送波形品質が低下してくる. これらの減衰を抵抗損と誘電損とに分けて定量的に求め,その特性を用いて,測定などで求めた線路損失の周波数特性から抵抗損と誘電損とを分離し,アイ開口特性を求める方法について述べる. つぎに,プリエンファシスに代表される,より広いアイ開口を得る方法を転送速度と伝送距離などのパラメータを変えて最適解を求め,さらなる高速化に向けての課題についても述べる.
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