エレクトロニクス実装学術講演大会講演論文集
第28回エレクトロニクス実装学術講演大会
セッションID: 7B-05
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第28回エレクトロニクス実装学術講演大会
金属接合部のエレクトロマイグレーション発生メカニズムの基礎と信頼性課題
*山中 公博
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抄録
はんだ接合部のエレクトロマイグレーションについて、発生メカニズムなどの基礎、現状の研究開発状況、さらに、今後の課題について解説する。
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© 2014 一般社団法人エレクトロニクス実装学会
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