日本液晶学会討論会講演予稿集
Online ISSN : 2432-5988
Print ISSN : 1880-3490
ISSN-L : 1880-3490
2001年 日本液晶学会討論会
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2PC01 TN セルのプレチルト角測定方法
*西岡 孝博蔵田 哲之前原 利昭
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p. 487-488

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抄録
We have proposed a novel pretilt angle measurement method for twisted-nematic cells. The dependence of the apparent retardation on the cell rotation angle is analyzed by the simple equations derived here. This method provides an advantage for both constructing a compact measurement system and measuring the pretilt angle of a small-size pixel.
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© 2001 日本液晶学会
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