日本液晶学会討論会講演予稿集
Online ISSN : 2432-5988
Print ISSN : 1880-3490
ISSN-L : 1880-3490
2016年 日本液晶学会討論会
セッションID: PA08
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干渉法と複屈折法によるセル厚と屈折率分散の測定(3)
*金本 明彦堀口 和樹鎌田 周作小宮 隆宏
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抄録

In order to determine the cell thickness and the wavelength dispersion in Δn of liquidcrystal materials without additional light sources, the interference method and the bire-fringence method are discussed. The cell thickness values measured with the former method less deviate from each other than those with the latter method. The dispersion of Δn tend to deviate whenΔn is large.

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© 2016 一般社団法人日本液晶学会
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