マイクロ電極(3) 応用計測事例：電気化学顕微鏡(SECM)-走査型イオンコンダクタンス顕微鏡(SICM)複合システムの開発

Electrochemistry

Online ISSN : 2186-2451
Print ISSN : 1344-3542
ISSN-L : 1344-3542

使える解析テクニック！具体例で説明する電気化学測定法

マイクロ電極(3) 応用計測事例：電気化学顕微鏡(SECM)-走査型イオンコンダクタンス顕微鏡(SICM)複合システムの開発

高橋康史 ^†, 珠玖仁 ^†, 末永智一 ^†

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ジャーナルフリー

2012 年 80 巻 4 号 p. 271-275

DOI https://doi.org/10.5796/electrochemistry.80.271

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© 2012 公益社団法人　電気化学会

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