抄録
イオンマイクロプローブによる局所同位体分析は太陽系の形成過程を明らかにする上で多大な貢献をしてきたが、イオン化効率が低いというのが最大の弱点であった。サブミクロンスケールでの局所分析を可能とするため、我々は、イオンビームによってスパッタされた試料を高出力レーザーでポストイオン化する2次中性粒子質量分析計 (SNMS: Secondary Neutrals Mass Spectrometer) の開発を行っている。これまでの実験から、イオンビームのみによるイオン化の場合と比較して、レーザー照射によりイオン信号強度が10000倍以上増加することを確認した。