軟X線自己吸収構造分析法(SX-SAS)を用いた第1遷移元素のL吸収端近傍構造の観察

抄録

軟X線分光法(SXES)において，試料表面に照射した電子ビームの加速電圧によって変化する自己吸収効果を用い，軟X線自己吸収構造分析法(SX-SAS)を開発した．SX-SASはX線吸収端近傍構造(XANES)，及び電子エネルギー損失吸収端近傍構造(ELNES)に類似する新たな分析手法として期待される． 本研究では，これまで分析対象としていたFeからその他の第1遷移元素に適用範囲を拡張し，Cr, Mn, Co, Ni, Cuから得た自己吸収スペクトルを示す．Mnについては酸化物，ケイ酸塩鉱物についてデータを取得し，酸化数に対応したスペクトルのエネルギーシフト，自己吸収構造の変化を観察した．特にケイ酸塩鉱物からは，同じ酸化数(2価)の鉱物についても，化学結合状態による自己吸収構造の違いと，その特徴を見出すことができた．