素粒子ミュオンを用いた非破壊元素分析法の高度化 (二次元イメージングシステムと低バックグラウンド化)

抄録

素粒子ミュオンを用いた非破壊分析の更なる高度化を目指し、(1) 入射ミュオンの飛跡をトラックする三段のドリフトチェンバーを開発することで特性X線の二次元イメージ化、(2) Ge検出器でのX線のコンプトン散乱成分を反同時計数するコンプトンサプレッサーを導入し軽元素分析の高感度化、を行なった。当日は、昨年スイスのポール・シェラー研究所の大強度ミュオン連続ビームを用いて行なった実験結果について報告する。