走査型透過X線顕微鏡(STXM)による炭素質コンドライトの炭素X線吸収端近傍構造(C-XANES)分析

抄録

STXMを用いたC-XANES分析は，高空間分解能で有機官能基イメージングが可能であり炭素質コンドライト隕石や小惑星サンプルの分析に活用されている。しかし，スタックイメージからのスペクトル抽出には恣意性があり，官能基分布の定量的な比較には限界がある。本研究では，主成分分析(PCA)を用いたスタックイメージ解析やC-XANESの各官能基ピークの定量化法を用いたデータ解析の検討を行った。そして，CI，CMコンドライトおよび比較的最近回収された未分類(Ungrouped)炭素質コンドライトであるChwichiya 002隕石およびTarda隕石の分析を行った。