MCP/FS/qCMOS二次元イオン検出システムを用いた同位体イメージング手法の開発と誤差評価

吉元 史; 岡野 真理; 伊藤 正一

doi:10.14862/geochemproc.71.0_204

2024年度日本地球化学会第71回年会講演要旨集

DOI https://doi.org/10.14862/geochemproc.71.0_204

会議情報

主催: 日本地球化学会年会要旨集

会議名: 2024年度日本地球化学会第71回年会講演要旨集

回次: 71

開催日: 2024/09/18 - 2024/09/20

G9　地球化学の最先端計測法の開発と挑戦

MCP/FS/qCMOS二次元イオン検出システムを用いた同位体イメージング手法の開発と誤差評価

*吉元史, 岡野真理, 伊藤正一

著者情報

キーワード: 二次イオン質量分析法, 同位体, 同位体イメージング, マイクロチャンネルプレート, qCMOS

会議録・要旨集フリー

p. 204-

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抄録

同位体は物質の化学的・物理的プロセスのトレーサーとして有用である．同位体イメージング手法には高ダイナミックレンジ，高感度，高精度に加えて，短時間計測が重要である．本研究では，MCP /FS /qCMOSによる高感度二次元検出システムを開発した．酸素同位体比が既知である試料を用いて誤差評価を行った結果，分析手法の最適化に成功した．

責任著者(Corresponding author)

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