阿蘇市上米塚産スコリア普通輝石斑晶のFeの軟X線自己吸収構造(SX-SAS)分析

抄録

軟X線自己吸収構造(SX-SAS)分析法は，軟X線発光分光器(SXES)を用いて異なる電子ビーム加速電圧下で測定された複数の特性X線スペクトルから自己吸収効果をスペクトル化し，吸収端近傍の構造を解析することで，X線吸収端近傍構造(XANES)，及び電子エネルギー損失吸収端近傍構造(ELNES)に類似する化学結合状態分析を行う手法である．本研究では，SX-SASを地球惑星科学に有用な分析ツールとして活用すべく，鉱物試料中のFeの酸化数変化に伴う吸収端のシフトおよび構造の変化を観察した結果について報告する．