二次イオン質量分析法(SIMS)において, 化学組成や結晶構造などが二次イオンの生成とその収率に影響を与えるマトリックス効果は分析確度の向上の障害となる. 鉱物やガラスの分析の場合は, 類似の化学組成を持つ標準試料を用いた経験則的な較正が有効である. しかし, 分析対象によっては単純な線型回帰や多項式回帰による推定が難しく, 外挿部分では推定の不確実性を十分に評価できないなどの問題が生じる.本研究はカンラン石Mg同位体比測定時の装置内同位体分別効果をガウス過程回帰により評価する. Mg同位体比が既知の17種のカンラン石標準試料において, FeO/MgO, CaO/MgOの２変数を訓練データとして用いて, カーネル関数には放射基底関数(RBF)を選択した. 先行研究でイオン化効率の指標として用いられる24Mg/28Si信号比を加えて学習させた予測モデルでは, 標準試料の組成空間においてO−ビームではR2=0.98, O2−ビームではR2=0.97と高い予測精度を達成した.
