走査型電子顕微鏡（SEM）を用いた断層破砕帯の定方位試料の微細組織観察

日本地質学会学術大会講演要旨

Online ISSN : 2187-6665
Print ISSN : 1348-3935
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第119年学術大会（2012大阪）

セッションID: R14-P-7

DOI https://doi.org/10.14863/geosocabst.2012.0_509

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主催: 一般社団法人日本地質学会

R14．テクトニクス

走査型電子顕微鏡（SEM）を用いた断層破砕帯の定方位試料の微細組織観察

*亀高正男, 島田耕史, 中山一彦, 瀬下和芳, 田中義浩, 林俊夫, 下釜耕太, 岡崎和彦

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キーワード: 活断層, SEM, 断層破砕帯, 微細組織, 条線, 剪断センス, 塩ノ平断層, 六甲断層, 五助橋断層, 下蔦木断層

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