ガンマ補正とゲイン調整機能のCMOSイメージセンサへの集積化の一手法

抄録

本稿では, ガンマ補正とゲイン調整をCMOSイメージセンサ上に集積化する一手法を提案する.画素回路には, 対数圧縮特性をもつアクティブピクセルセンサを用いる.CMOSプロセスのn-wellを用いた基板pnpバイポーラトランジスタにより, 対数変換されたセンサの電圧信号は指数伸長される.この対数圧縮-指数伸長処理により, 簡単な構成でガンマ補正と自動ゲイン調整が可能となる.基本特性を, 回路シミュレーションにより確認した.