評価関数の改良によるGA及びSAを用いた対応点決定法の高精度化

抄録

二枚の画像から抽出された特徴点が与えられた場合, それらの対応付けを遺伝的アルゴリズム(GA:Genetic Algorithm)及び焼きなまし法(SA:Simulated Annealing)を用いて探索する手法が既に提案されている.しかしながら, 従来法では, 最適解と近い評価を得る局所解が存在するため, 局所解に陥りやすいという問題がある.本稿では, 従来法の評価関数を改善することにより局所解に陥る確率を減少させ, 効率的に最適な対応付けを探索する手法を提案する.