異常ホール効果を用いた微細磁性ドットの評価(記録システムおよび一般)

木谷 貴則; 伊勢 和幸; 近藤 祐治; 山川 清志; 有明 順

doi:10.11485/itetr.34.20.0_7

セッションID: MR2010-1

DOI https://doi.org/10.11485/itetr.34.20.0_7

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異常ホール効果を用いた微細磁性ドットの評価(記録システムおよび一般)

木谷貴則, 伊勢和幸, 近藤祐治, 山川清志, 有明順

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キーワード: 異常ホール効果, 異常ホール電圧, 磁化, ビットパターン媒体, Co-Pt媒体

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抄録

微細磁性ドットの磁化評価を目的とし,媒体膜構造におけるシート膜および微細磁性ドットアレイの異常ホール効果の基礎特性について検討するため,Co-Pt層の膜厚依存性およびRu下地層の膜厚依存性を調べた.媒体の異常ホール効果は,強磁性薄膜単体のホール効果において理論的に予想される結果と異なる傾向を示した.Co-Pt層を流れる電流密度が,膜構成によって変化するためだと考えられる.シート膜と磁性ドットアレイでは,基本的な傾向に違いが見られなかった.

責任著者(Corresponding author)

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