デジタルアシスト・アナログテスト技術 : ナノCMOS時代のアナログ回路テスト技術(アナログ,アナデジ混載,RF及びセンサインタフェース回路)

抄録

この論文ではミックストシグナルSoCのアナログ部のテストに関して現状と問題点を示し,次の2つの内容について考察する.(i)デジタル自己校正やデジタル誤差補正を用いてアナログRF回路を高性能化するデジタルアシストアナログ技術が微細CMOSを用いたSoC内で多用されつつある.この製造出荷時テスト法に関する考察を行う.(ii)微細CMOS SoC内ではDSPコア,メモリ等の豊富なデジタル回路を有する場合が多い.これらを利用してSoC内アナログRF回路のテストを容易化する技術について考察する.