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第3回 中性子で電池内部の充放電劣化を画像診断 非一様な劣化分布画像を非破壊で定量的に取得

抄録

　リチウムイオン二次電池の内部の充放電能力に関わる劣化を，中性子ビームを用いて非破壊で定量的に画像化する手法開発に成功した。この成功の主な要因は，パルス状中性子ビームを用いた“ブラッグエッジイメージング”という手法の電池への応用と電池内電極材の結晶の向きの偏りを分析に導入した事である。本稿では，中性子の分析プローブとしての特徴や分析手法の原理と工夫，研究成果を中心に紹介する。