抄録
岩石，鉱物，土壌等の地質試料の化学分析には蛍光Ｘ線分析法が一般に用いられている．最近，地質試料の微量成分分析にはＩＣＰ－ＭＳが用いられることが多いが，岩石等の主成分分析には蛍光Ｘ線分析法が標準的な手法としての地位を確立している．また微量成分元素の分析にも蛍光Ｘ線分析法が利用されており，地質系研究機関におけるその役割は大きい．産業技術総合研究所地質調査総合センターは２００７年7月新たな蛍光Ｘ線分析装置(PANalytical Axios Advance Mineral)を導入し，その評価を行っている．分析手法と補正法について詳細な検討を行い，また多種の標準岩石試料の分析結果を得て，新たな分析装置とその装置を用いた分析手法の評価を実施した．その結果を報告する．
